薄膜厚度測量儀-膜厚儀結合顯微鏡的薄膜測量系統(tǒng)

Filmetrics F40 SS-Microscope-VIS-1系統(tǒng)                                  Filmetrics F40-UV SS-Microscope-UVX-1系統(tǒng)

Filmetrics薄膜厚度測量儀-膜厚儀的精密光譜測量系統(tǒng)讓用戶簡單快速地測量薄膜的厚度和光學常數，通過對待測膜層的上下界面間反射光譜的分析，幾秒鐘內就可測量結果。

當測量需要在待測樣品表面的某些微小限定區(qū)域進行，或者其他應用要求光斑小至1微米時，可以使用F40。使用先前足部校正顯微鏡的物鏡，再進行測量，即可獲得精準的厚度及光學參數值。只要透過Filmetrics的C-mount連接附件，F40就可以和市面上多數的顯微鏡連接使用。C-mount上裝備有CCD攝像頭，可以讓用戶從電腦屏幕上清晰地看樣品和測量位置。

相關應用

半導體制造                              生物醫(yī)學原件

• 光刻膠                              • 聚合物/聚對二甲苯

• 氧化物/氮化物                          • 生物膜/球囊壁厚度

• 硅或其他半導體膜層                      • 植入藥物涂層

微電子                                液晶顯示器

• 光刻膠                              • 盒厚

• 硅膜                                • 聚酰亞胺

• 氮化鋁/氧化鋅薄膜濾鏡                    • 導電透明膜